SAXS 和 WAXS 是材料研发中非常高效的一对表征手段。SAXS 主要看 1–100 nm
尺度的介观结构，如颗粒尺寸、孔隙、相分离、团聚状态和界面层;WAXS 则看 0.1–1 nm 尺度的晶体结构，如晶面间距、晶粒尺寸、结晶度、取向和相变。
二者联用时，能够从“纳米形貌”到“原子堆积”形成完整的多尺度结构链条。
SAXS 看什么：纳米尺度的电子密度差异
SAXS 信号来源于样品内部电子密度不均匀区域，例如颗粒与溶剂、孔洞与骨架、晶区与非晶区之间的差异。 只要存在这种差异，SAXS
就能给出统计性的结构信息。
典型应用包括：
纳米颗粒尺寸与形貌：判断粒径分布、团聚状态、核壳结构或棒状/片状形貌。
多孔材料孔隙结构：获取平均孔径、孔隙率、比表面积和孔道连通性，适用于硬碳、多孔碳、介孔材料等。
聚合物相分离：分析嵌段共聚物、固态电解质、隔膜中的微相分离和长周期结构。
浆料与胶体体系：评估纳米颗粒在电解液、分散液或涂布浆料中的分散稳定性。
原位动态过程：追踪充放电、退火、结晶、溶胀、相分离等过程中纳米结构的实时演变。
WAXS 看什么：晶体结构与短程有序
WAXS 探测的是更高散射角区域，对应原子/分子尺度的周期性结构。 它适合回答“材料是什么晶相、晶粒多大、结晶度如何、是否发生相变”等问题。
典型应用包括：
晶相鉴定与定量：识别多相共存、杂质相和相转变产物。
晶粒尺寸与微应变：通过峰宽变化评估晶粒细化、应力状态和结构无序度。
结晶度分析：区分聚合物、无机薄膜或复合电极中的晶区与非晶区。
取向与织构：判断薄膜、极片或纤维中晶面的择优取向。
原位相变监测：捕捉退火、结晶、嵌锂/脱钠、氧化还原过程中的结构演化。