同步辐射光电子能谱 (SRPES)根据光电效应，内层电子被同步辐射X射线激发并获得一定动能，克服表面能垒逃逸体外，并以光电子的形式被检测。相比于传统XPS技术，SRPES技术通过改变入射光子能量，实现从最表层到相对体相的不同深度的电子结构解析。
样品状态：要求块状、薄膜、粉末样品，粉末样品至少10mg，块状/薄膜样品：尺寸小于10*10*3mm;