原位X射线光电子能谱（原位XPS）

项目介绍

1、原位X射线光电子能谱是在常规XPS基础上引入可控环境，使测量不再局限于超高真空的状态;

2、高温、气氛以及电化学类型的原位XPS测试，采用的是准原位的测试方法，在反应仓中(或手套箱)制备并进行原位反应，待反应完成样品稳定之后，真空转移到测试仓进行测试，可有效避免样品与空气的接触;

3、原位XPS的数据采集一般包含宽谱(全元素扫描)和窄谱(精细谱)。背景扣除常用Shirley或Tougaard方法，分峰拟合用Voigt线型(Gaussian-Lorentzian卷积)，用于解析化学态组分并跟踪峰面积随测试条件或测试时间的变化。

样品要求

1. 样品状态：要求块状、薄膜、粉末样品;

2. 粉末样品：至少10mg;

3. 块状/薄膜样品：尺寸小于10*10*3mm，最佳尺寸小于5*5*2mm;需标记好测试面;

4. 液体样品：需制好样干燥后再测试;制样方法：(悬浊)、离子液体、膏状等样品可滴到Si片、聚乙烯/聚丙烯、金属片、滤膜、滤纸、树脂、海绵等固体基片上晾干或冷冻干燥后上机测试(注意正确选择基底，避免干扰);

5、注意：

①易氧化的样品建议手套箱制样，也请抽真空后送样;

②XPS是高真空环境测试的，所以要求样品要充分干燥，易吸湿样品请提前说明;

③不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品;

④样品含有放射性元素请提前说明;

⑤块状/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样，接触空气容易受C、N、O、Si等元素污染，测试结果可能会有误差;

⑥样品是用胶带固定到样品台上，回收的样品会有污染或损坏/损失，不建议回收样品!

测试结果