飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段,具有质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,分析深度可达到表面1-3nm,检出限可达ppm级别,不仅可以进行全元素(从H到U)及同位素分析,同时还可以准确地识别原子团和官能团,并对固体样品进行微区分析成像和深度动态分析,已广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等领域。

项目介绍

TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段,具有质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,分析深度可达到表面1-3nm,检出限可达ppm级别,不仅可以进行全元素(从H到U)及同位素分析,同时还可以准确地识别原子团和官能团,并对固体样品进行微区分析成像和深度动态分析,已广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等领域。

样品要求

1. 粉体样品需压片后测试,而且只做mapping,不做深度剖析;薄膜/块体样品长宽1*1cm左右大小,厚度不超过5mm,真空保存;

2. 样品在超高真空下必须稳定,无腐蚀性,强磁性样品需消磁后送样;

3. 所有的样品建议有独立的真空包装,不要用有黏性的塑料袋/膜,或者粘胶,否则会有硅油在样品表面,会遮盖样品表面的信息,TOF测试1-2nm的信息,对表面测试非常灵敏,块体样品要求在测试面的背面油性笔画叉,并在测试单上标注,极片尽量用铝塑袋,锂金属钠金属建议用铝塑袋封装,避免样品被氧化。

测试结果